La Commission Européenne vient d'accorder un soutien financier de 4,5 ME à un consortium qui entend trouver des solutions techniques aux fuites de courant dans les circuits intégrés de type CMOS gravés en 65 nm et moins. Emporté par STMicroelectronics, ce consortium est au c?ur du projet Clean, pour « Controlling Leakage power in NanoCMOS SoCs » et doit déboucher sur une amélioration de la conception des circuits intégrés. Les fuites de courant sont clairement apparues comme un obstacle au développement de procédés de gravure en dessous de 65 nm. Leur maîtrise constitue un défi technologique pour l'industrie des semi-conducteurs. Le consortium au c?ur du projet Clean compte un total de 14 partenaires dont notamment Infineon, ChipVision Design Systems ainsi que les universités du Danemark et de Budapest.